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Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the 20th Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held August 11-13, 1971 / Edited by Kurt F.J. Heinrich and C.S. Barrett, J.B. Newkirk and C.O. Ruud
Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the 20th Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held August 11-13, 1971 / Edited by Kurt F.J. Heinrich and C.S. Barrett, J.B. Newkirk and C.O. Ruud
Autore Heinrich, Kurt F. J.
Pubbl/distr/stampa New York : Plenum Press, 1972
Descrizione fisica xii, 573 p. ; 25 cm
Disciplina 548
Collana Advances in X-Ray Analysis
Soggetto non controllato Cristallografia
Raggi x
ISBN 0-306-38115-X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990001090560403321
Heinrich, Kurt F. J.  
New York : Plenum Press, 1972
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Quantitative electron probe microanalysis. Proceedings of a seminar held at the National Bureau of Standards, Gaithersburg(Maryland) 12-13 june, 1967 / K.F.J. Heinrich
Quantitative electron probe microanalysis. Proceedings of a seminar held at the National Bureau of Standards, Gaithersburg(Maryland) 12-13 june, 1967 / K.F.J. Heinrich
Autore Heinrich, Kurt F. J.
Pubbl/distr/stampa Washington : United Started Departm. of Commerce, 1968
Descrizione fisica n.v.p. ill. 30 cm
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ita
Record Nr. UNINA-990000358170403321
Heinrich, Kurt F. J.  
Washington : United Started Departm. of Commerce, 1968
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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